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霍爾效應(yīng)的測量是開展半導(dǎo)體研究的重要方法。本機利用計算機的數(shù)據(jù)采集和處理在80K-400K溫度范圍內(nèi)對霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率的聯(lián)合測量，進行半導(dǎo)體導(dǎo)電機制及散射機制的研究，并可確定半導(dǎo)體的一些基本參數(shù)，如導(dǎo)電類型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質(zhì)電離能等。​

主要技術(shù)指標

1．電磁鐵   ​0-300mT連續(xù)可調(diào)

2. 勵磁電源​0-5A連續(xù)可調(diào)  可自動換向​穩(wěn)定性﹤±0.1%

3. 數(shù)字特斯拉計​0-2000mT​ 三位半數(shù)字顯示   分辨率0.001

4. 恒流源輸出​1mA​ 穩(wěn)定性±0.1%

5. 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓測量最小分辨率1uV

6. 溫度變化測量范圍​    80-400K

7. 整套儀器由電磁鐵系統(tǒng)、電源控制系統(tǒng)機箱、測量系統(tǒng)主機、恒溫器四部分組成

8. 探頭樣品采用單晶鍺片