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   FZ-2010半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀介紹

FZ-2010半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀一套，可配有粉末測(cè)試臺(tái)、四探針測(cè)試架。

該儀器符合以下主要技術(shù)指標(biāo)： 

1．測(cè)量范圍： 

電阻 10-4 – 106Ω, 分辨率 1μΩ ；

電阻率 10-4 – 106Ω•.cm，分辨率 1μΩ•cm；

薄層電阻  10-3~107Ω/□，分辨率10-5Ω/□；

測(cè)量誤差 ±（0.3% 讀數(shù) + 2 字）。 

2．測(cè)量電壓量程：0.2 mV、2mV、20mV、 200mV、2V，分辨率 0.1 µV；

測(cè)量精度: ±（0.3% 讀數(shù) + 2 字）。 

3.測(cè)量電流：0 - 100 mA 連續(xù)可調(diào)；

電流量程：1µA、10 µA、100 µA、 1 mA、10 mA、100mA。 

4.粉末測(cè)量:

試樣粒度:標(biāo)準(zhǔn)篩網(wǎng)40目以上,直至納米材料；

試樣容器：內(nèi)腔Φ10 ± 0.1mm ；

試樣高度：16mm ± 0.5mm 或6-20mm ± 0.1mm；

測(cè)量誤差：±0.1mm 。

取樣壓力：4 Mpa ± 0. 5 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)；

         或8 Mpa ± 0. 5 Mpa ( 80 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)；

壓力量程：0 - 190 kg 可調(diào)。 

5..固體薄膜及半導(dǎo)體測(cè)量:四探針測(cè)試架;

探針間距1 mm±0.03mm；

探針游移率<±0.3%；

可測(cè)材料尺寸,直徑Φ15~160,長(zhǎng)度<400

6.顯示方式: 電阻、電阻率、壓力、高度為 3 1/2 數(shù)字顯示,并自動(dòng)顯示單位和小數(shù)點(diǎn)。

7.電源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗<150W。

8.電氣箱外形尺寸：440mm×120mm×420mm 。

9.通過(guò)粉末測(cè)試架和固態(tài)四探針測(cè)試架對(duì)粉末、片狀、塊狀半導(dǎo)體材料進(jìn)行電阻、電阻率、方塊電阻等多作途測(cè)量。

儀器主機(jī)和測(cè)試架

儀器主機(jī)

        四探針測(cè)試架示意圖

粉末測(cè)試臺(tái)

北京恒奧德科技有限公司

李紅慧    15810842463